科技动态  

出　　处：《测控技术》2014年第10期159-160,共2页Measurement & Control Technology

摘　　要：NI推出基于PXI的半导体测试系统（STS） 美国国家仪器公司（简称NI）近日宣布推出NI半导体测试系统（STS）系列。这些基于PXI的自动化测试系统通过在半导体生产测试环境中引入NI和工业标准的PXI模块降低了射频和混合信号设备的测试成本。与传统半导体自动化测试设备（ATE）相比，STS可降低生产成本和提高吞吐量，并且可使用相同的硬件和软件工具中进行特征性测试和生产。

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分 类 号：TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]