检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:秦玉伟[1]
机构地区:[1]渭南师范学院物理与电气工程学院,渭南714000
出 处:《激光技术》2014年第6期845-847,共3页Laser Technology
基 金:陕西省军民融合研究基金资助项目(13JMR18);陕西省教育厅科学研究计划资助项目(12JK0672);陕西省科技厅国际交流合作资助项目(2013KW04-03)
摘 要:为了实现对氧化锌薄膜的厚度测量,采用光学相干层析成像的方法进行了理论分析和实验验证,获得了含厚度信息的1维深度图像和含内部结构信息的2维层析图像。结果表明,该方法测得的薄膜厚度值与理论值一致。该研究说明谱域光学相干层析成像技术的测量结果真实有效,可以用于薄膜的厚度测量和质量检测。In order to measure the thickness of ZnO film , optical coherence tomography ( OCT) technique was used for theoretic analysis and experimental verification .The 1-D depth image including thickness information and the 2-D cross-sectional image including structure information were obtained simultaneously .The results show that the measuring result is almost as same as the theoretical value .It is illustrated that the measurement of the spectral-domain OCT is real and effective.It can be used for the measurement of thickness and quality of the film .
分 类 号:TN247[电子电信—物理电子学]
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