《供应大功率三极管芯片在检测中应注意的问题及三极管放大倍数在电老化试验前后的变化率分析》  

作　　者：安建华[1] 巩旭[2] 

机构地区：[1]济南市半导体元件实验所,济南250014 [2]积成电子股份有限公司,济南250100

出　　处：《信息技术与信息化》2014年第6期218-225,215,共9页Information Technology and Informatization

摘　　要：文章对某晶体管厂寻找三个不同放大倍数范围的三极管芯片的七次供货中的相关数据进行了分析,提出了大功率三极管芯片在检测中应注意的问题,并对三极管芯片放大倍数在电老化试验前后的变化率进行了简单分析。

关 键 词：三极管芯片 放大倍数 变化率 

分 类 号：TN32[电子电信—物理电子学]