ZTS晶体缺陷的实时AFM观测  

In situ AFM observations on the defects of ZTS crystals

作　　者：曹亚超[1] 李明伟[1] 潘翠连 程旻[1] 宋洁[1] 

机构地区：[1]重庆大学低品位能源利用技术及系统教育部重点实验室,重庆400030 [2]青岛海信日立空调系统有限公司,山东青岛266071

出　　处：《功能材料》2014年第23期23059-23064,共6页Journal of Functional Materials

基　　金：国家自然科学基金资助项目(51176208;50976127);中央高校基本科研业务费资助项目(CDJZR13140015)

摘　　要：利用原子力显微镜(AFM)对硫脲硫酸锌(ZTS)(100)面的生长过程进行实时观测研究,发现晶体表面凹陷及杂质对台阶推移的阻碍作用均有可能导致凹坑的出现;大台阶对凹坑和杂质的覆盖是包裹体产生的重要原因。首次观察到杂质分界点现象,不可移动杂质的存在不会终止台阶的推移。The real-time growth process of the (100)face of zinc tris-thiourea (ZTS)was observed using in situ atomic force microscopy (AFM).It comes out that pits could be result from the hollow surface and impurities on crystal surface that block up step advancement.The coverage by the macrostep of pits and impurities is the basic cause for inclusion generation.The impurity pinning phenomenon of ZTS was observed for first time.Im-mobile impurities didn’t terminate the advancement of steps.

关 键 词：ZTS晶体 AFM 凹坑 杂质分界点 包裹体 

分 类 号：O782[理学—晶体学] TK124[动力工程及工程热物理—工程热物理]