一种基于像素点TFT-LCD的点线缺陷的检测方法  

作　　者：张佳[1] 

机构地区：[1]武汉大学信息管理学院,湖北武汉430072

出　　处：《科技创业月刊》2014年第11期182-184,共3页Journal of Entrepreneurship in Science & Technology

摘　　要：在目前大多数的液晶显示器(Liquid crystal display,LCD)制造过程中,很多都是基于人眼的缺陷检测,有很多的人工检测的弊端,研究目前基于TFT-LCD的点、线缺陷的机器视觉的自动检测方法。基于SEMI标准中点、线缺陷的测量规范和LCD视觉检测试验平台,针对点、线缺陷的灰度变化值,来研究基于图形值方根值、灰度分割、灰尘去除、基于像素点的图形识别来进行的缺陷量化的方法,综合几个方面的研究,建立点线缺陷自动检测流程。试验证明,所提出的方法能较好地检测做到灰度增强、抑制背景、确定灰度差异,准确分割和识别出点线的缺陷,并给予相应的量化标准。该方法适用于点线缺陷的自动检测,检测方式和人眼相似,有很好的鲁棒性能。对于100片LCD样本做分析,有98片能成功检测。

关 键 词：液晶显示器 像素点 点线缺陷 缺陷检测算法 

分 类 号：TN27[电子电信—物理电子学]