基于目标辐射特性的红外探测技术分析  

作　　者：姜志[1] 陈佐龙[1] 马俊成[1] 

机构地区：[1]白城兵器试验中心,白城137001

出　　处：《兵器试验》2014年第5期34-37,44,共5页

摘　　要：针对中波红外成像与长波红外成像探测技术在目标识别及高精度测量领域的适用性问题，通过对目标红外特性、大气传输特性、背景红外特性及器件本身特性的关键技术分析，科学剖析了两种红外探测技术各自的技术优势和适用领域，为设备论证中成像器件合理选型及试验任务中快速捕获跟踪目标，实现远距离工作段可靠获取高质量红外图像和定量测量红外辐射特性提供理论依据。

关 键 词：目标辐射 特性分析 中波长波 红外探测 

分 类 号：TN215[电子电信—物理电子学]