光学测量设备时统取齐方法的研究  

作　　者：李艳红[1] 杨立保[2] 

机构地区：[1]长春理工大学,长春130022 [2]中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,长春130033

出　　处：《计算机光盘软件与应用》2014年第21期130-131,共2页Computer CD Software and Application

摘　　要：利用光学设备对同一目标进行测量时,常因为各设备的器件响应差异,导致设备间的时统同步性存在误差。该误差存在影响数据处理的精度,使得解算结果无法满足高精度要求。为了保证获得更高的精度,本文提出了多台设备时统取齐的新方法。即利用角反射体的同向反射的特点,模拟多台光侧设备的合作目标。以频闪灯的起始闪烁时间作为各站点光测设备的外同步触发时间。该系统可测量不同站点多台光测设备的时间同步性。测量精度可达1/1000秒。

关 键 词：光学测量设备 时统取齐 角反射体 

分 类 号：TP751.2[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]