固态源跳频缺陷分析  

Analysis of Frequency Hopping in Solid State Source

作　　者：高山[1] 徐晟 

机构地区：[1]中国人民解放军海军驻上海地区航天系统军事代表室,上海200233 [2]上海无线电设备研究所,上海200090

出　　处：《制导与引信》2014年第3期47-50,共4页Guidance & Fuze

摘　　要：通过分析体效应管内部高场畴的运动方式和具有负阻特性的电流-电压曲线,提出固态源跳频缺陷产生的原因,是由于固态源振荡回路中,跳频频率的电场强度占据主导地位,控制体效应管内部高场畴在由阴极向阳极渡越过程中半途猝灭,体效应管作为能量转换器件输出跳频频率。Introduces the operational model of high-field domain and the volt-ampere curve with negative-resistance effect in body effect diode. Frequency hopping is one inherent flaw of solid state source. This mode is outputted through body effect diode by the main electric field strength of made hopping frequency in oscillation circuit, and achieved with high-field domain quenching.

关 键 词：体效应管 固态源 跳频 

分 类 号：TN753.1[电子电信—电路与系统]