检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]深圳市奥拓电子股份有限公司,广东深圳518057
出 处:《电子科学技术》2014年第3期327-331,共5页Electronic Science & Technology
摘 要:加速寿命试验可以在不改变产品失效机理的条件下用较短的时间预计产品的可靠性水平,是一种经济、便捷、有效的寿命评估方法。本文对加速寿命试验的基本试验方法、失效模型、加速因子进行了详细阐述。选取LED模组,通过高温高湿恒定应力加速寿命试验,预估出LED模组在常温下的平均寿命,对试验相关结果进行了分析和讨论。Accelerated life test can be expected to reliability level of product at a short period of time in the same failure mechanism condition, is an economic, convenient, effective evaluation method of life. This paper detailed introduced the basic test method, failure model, accelerated factor for accelerated life test. Selected LED module, by the accelerated life tests of high temperature and humidity constant stress, it’s expected to average life of LED module in ambient temperature and test results are analyzed and discussed.
分 类 号:TN873[电子电信—信息与通信工程]
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