光度测试C-γ测试系统中灯下点光强的问题和探索  

Analysis of the Variation of Luminous Intensity of Nadir during Photometric Test Using C-γ System

作　　者：高欢忠[1] 陈献亚[1] 刘磊[1] 

机构地区：[1]国家电光源质量监督检验中心(上海),国家灯具质量监督检验中心,上海201114

出　　处：《中国照明电器》2014年第9期32-36,共5页China Light & Lighting

摘　　要：对灯具光度测试过程中碰到的部分灯具配光曲线灯下点光强不一致的问题,从两个方面进行分析:灯具(或光源)工作稳定性以及分布光度计设备机械校准误差。同时,尝试1种比较简单的验证方法来排查灯下点光强不一致的原因,并应用于某LED PAR38灯作了相关实验分析。We analyzed the variation of luminous intensity of nadir during photometric test using C-γ system from two aspects： the stability of luminaires （sources） and mechanical errors of calibration. Furthermore, we tried to determine the cause of variation in a simple way. With a LED PAR38 lamp, a preliminary experimental analysis was made.

关 键 词：C-γ测试坐标系 灯下点光强 发光稳定性 

分 类 号：TM923[电气工程—电力电子与电力传动]