侵彻过载高速存储测试的研究与实现  被引量:1

High-speed storage measurement of the projectile body penetration overload

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作  者:高进忠 孙远程[1] 黄玉川[1] 苗江宏[1] 

机构地区:[1]中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳621999

出  处:《太赫兹科学与电子信息学报》2014年第6期813-816,共4页Journal of Terahertz Science and Electronic Information Technology

摘  要:针对混合型单片机应用中数据捕获率不足问题,在分析其机理及原因基础上,采用外置高速模数转换器(A/D)与单片机的串行通用接口(SPI)构成串行采集存储结构。利用单片机所提供的时钟源将数据捕获率由200 ksps提高到780 ksps,在此基础上提出了三轴过载测量总体方案。研究结果表明,通过提高SPI总线时钟速率,可将数据捕获率进一步提高到2.5 Msps,这将作为今后的研究方向。For the disadvantages of the hybrid microcontroller application data capture, the serialacquisition storage structure is created by adopting external Analog to Digital(A/D) converter and thesingle chip microcomputer Serial Peripheral Interface(SPI) bus based on analyzing its mechanism andreason. The data capture rate is increased from 200 ksps to 780 ksps by using the clock source providedby single chip microcomputer. An overall scheme of the triaxial overload measurement is proposed basedon this work. The results show that the capture rate can be increased to 2.5 Msps by improving the SPI busclock rate, and it will serve as the future research direction.

关 键 词:存储测试 侵彻过载 SPI串行总线 

分 类 号:TP368.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构]

 

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