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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
出 处:《江南大学学报(自然科学版)》2014年第6期736-742,共7页Joural of Jiangnan University (Natural Science Edition)
基 金:国家自然科学基金项目(50979029);河海大学自然科学基金项目(2008431111)
摘 要:结合WLE控制图和VSI EWMA控制图,提出了基于田口损失函数下的可变抽样区间的EWMA控制图(简称VSI EWMA平均损失控制图),它是一种在抽样区间可以变化的条件下能够同时检测过程均值和方差漂移的控制图;同时构造的新控制图通过添加控制限区分漂移类型,即在过程失控状态下区分是过程均值发生了漂移还是方差发生了漂移,或者两者都发生了漂移。通过与FP EWMA平均损失控制图及珔X^S控制图进行比较,得出新构造的控制图对过程漂移具有更好的敏感性。In this paper,combined with the WLE control chart and VS1 EWMA control chart theory, the VSI EWMA control chart based on the Taguchi loss function (VSI EWMA average loss control chart) is put forward. It is capable of simultaneous detecting the process variable mean and variance drift in the sampling interval conditions. At the same time, the new control chart is constructed by adding the control limits to distinguish drift type, namely in the process out of the control conditions ,to distinguish the process mean shift or variance shift,or both the drift. Finally,compared with the FP EWMA average loss control chart and X ~ S control chart,the new control chart has a good sensitivity for process drift.
关 键 词:WLE平均损失控制图 偏移类型 敏感性
分 类 号:O213[理学—概率论与数理统计]
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