粗糙逻辑中理论相容性的拓扑刻画  

On topological characterization of consistency of logic theories in rough logic

作　　者：贺晓丽[1] 折延宏[1] 

机构地区：[1]西安石油大学理学院,西安716005

出　　处：《计算机工程与应用》2015年第2期64-68,共5页Computer Engineering and Applications

基　　金：国家自然科学基金(No.61103133);西安石油大学青年科技项目(No.2012QN011);陕西省自然科学基础研究计划项目(No.2014JQ1032)

摘　　要：有关文献将计量化方法应用于粗糙逻辑之中,建立起了用以处理近似推理问题的粗糙逻辑度量空间理论。拟借助于粗糙逻辑度量空间理论,从拓扑学的角度给出粗糙逻辑理论相容性的等价刻画。In relevant literature a quantitative approach to the study of rough logic has been presented, resulting in a kind of rough logic metric space for the approximate reasoning in rough logic. In this paper, by employing the rough logic metric space theory, the consistency of logic theories is characterized from the viewpoint of topology.

关 键 词：粗糙逻辑度量空间 相容性 拓扑刻画 

分 类 号：TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术]