使用同步检测进行精密低电平测量  

作　　者：Luis Orozco 

机构地区：[1]ADI公司

出　　处：《中国集成电路》2015年第4期75-80,共6页China lntegrated Circuit

摘　　要：同步检测是一项实用的技术，可提取隐藏于噪底以下的低电平信号，在仪器仪表领域有很多应用。比如：测量非常小的电阻，测量在强背景光下光的吸收或反射，或者在高噪声电平的情况下进行应变测量。

关 键 词：低电平测量 同步检测 电平信号 仪器仪表 应变测量 噪声电平 背景光 隐藏 

分 类 号：TN911.23[电子电信—通信与信息系统]