同轴光定向反射仪与全光谱照相系统对光滑客体表面潜在指印提取效果比较  

作　　者：徐政[1] 杨玉柱[1] 

机构地区：[1]中国人民公安大学刑事科学技术学院,北京102623

出　　处：《中国人民公安大学学报（自然科学版）》2015年第1期25-28,共4页Journal of People’s Public Security University of China(Science and Technology)

摘　　要：目的利用同轴光定向反射仪与全光谱照相系统提取光滑客体表面遗留潜在指印,研究两种方法提取潜在指印的效果,发现两种仪器的优势。方法利用同轴光定向反射仪与全光谱照相系统对不同光滑客体表面遗留潜在指印进行光学显现提取,记录实验结果,对比、分析提取效果。结果利用同轴光定向反射仪与全光谱照相系统显现光滑客体上的潜在指印,多数情况下有较好效果,少数情况下效果不理想。结论利用同轴光定向反射仪与全光谱照相系统提取光滑客体表面遗留潜在指印,方法简便,成功率高,对刑事技术工作实践很有帮助。

关 键 词：同轴光定向反射仪 全光谱照相系统 紫外线反射照相 光滑客体 潜在指印 

分 类 号：D918.91[政治法律—法学]