二氧化硅常见测定方法的探讨  

Discussion on Common Determination Methods of Silicon Dioxide

作　　者：侯双霞 侯宏涛[2] 

机构地区：[1]河南省机械设计研究院有限公司,河南郑州450002 [2]河南理工大学能源科学与工程学院,河南焦作454003

出　　处：《科技视界》2015年第18期137-137,233,共2页Science & Technology Vision

摘　　要：主要介绍了目前二氧化硅的常见测定方法 ,例如重量法、氟硅酸钾容量法、X射线荧光光谱法等,并对各个方法进行了论述,这将对实际的分析工作有一些指导作用。This paper introduces the common methods for determination of silicon dioxide currently, such as weight method, potassium fluosilicate volumetric method, X-ray fluorescence spectrometry, etc., and the various methods were discussed, this will guide the actual analytical work.

关 键 词：二氧化硅(Si O2) 传统化学法 X射线荧光光谱法 电感耦合等离子体发射光谱法 其他方法 

分 类 号：TQ127.2[化学工程—无机化工]