检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:严悍[1] 许昌年 朱文[1] 丁锋[1] 王宇[1]
机构地区:[1]南京理工大学计算机科学与工程学院,江苏南京210094
出 处:《现代电子技术》2015年第12期118-122,共5页Modern Electronics Technique
基 金:国家自然科学基金(61300053)
摘 要:针对场景测试法中多场景切换代价优化问题,在复合状态分析、逻辑蕴含概念基础上,从测试场景结构分解的角度,给出状态蕴含和场景蕴含关系的定义及推论,由场景蕴含形成场景蕴含图SIG,然后采用图论方法求解优化路径。给出系统化处理方法,并与其他方法比较。最后实例验证该方法的有效性。For the multiscenario switching cost optimization in scenario testing,aiming at the structural decomposition of test scenario,the definition and inference of the state implication and scenario implication relation are given in this paper based on the composite state analysis and logical implication concept. The SIG(scenario implication graph)is formed by the scenario implication relationship,and then the graph theory method is used to solve the optimal path. A systematized processing method based on SIG is introduced and compared with other methods. The effectiveness of this method was verified by examples.
关 键 词:场景测试法 蕴含关系 路径优化 场景蕴含图 状态蕴含
分 类 号:TN911.34[电子电信—通信与信息系统] TP311[电子电信—信息与通信工程]
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