宇航元器件长期贮存及寿命评价方法研究  

作　　者：田智文[1] 刘文宝[1] 王敬贤[1] 

机构地区：[1]中国航天标准化与产品保证研究院,北京100071

出　　处：《质量与可靠性》2015年第3期32-34,共3页Quality and Reliability

摘　　要：现代武器装备及卫星单机对元器件提出了长期贮存要求。本文结合宇航元器件贮存概念及相关规定,提出了影响元器件装机后贮存寿命的关键要素为元器件属性(结构、材料、工艺等)、贮存环境(温度、湿度、振动、电场、化学腐蚀等)和原有缺陷的增殖程度,并对元器件长期贮存寿命给出了基于单一机理的恒定应力加速寿命试验评价方法流程。

关 键 词：宇航元器件 贮存寿命 评价方法 

分 类 号：V468[航空宇航科学与技术—航空宇航制造工程]