超辐射发光二极管SLD可靠性浅谈  

作　　者：王琳[1] 史典阳[1] 任艳[1] 于迪[1] 

机构地区：[1]工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610

出　　处：《科技视界》2015年第20期89-89,153,共2页Science & Technology Vision

摘　　要：随武器装备向高可靠性发展,SLD作为光纤陀螺的关键器件得到了迅速的发展,分析了SLD产品的主要失效模式与失效机理,并在介绍了国内外SLD产品的可靠性以及当前国内进行的SLD加速试验情况后,提出了建立SLD预计模型的迫切性,最后给出了SLD可靠性预计初步模型。

关 键 词：SLD 失效 可靠性预计 

分 类 号：TP368.5[自动化与计算机技术—计算机系统结构]