电子测试系统中VXI总线接口技术研究分析  

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作  者:熊强强[1] 杨艳红[1] 

机构地区:[1]南昌理工学院

出  处:《商》2014年第48期149-149,共1页Business

摘  要:在众多的电子产品中,测试系统作为一种普遍使用信息化电子产品,越来越引起了人们的关注。然而,随着科学技术的不断发展,它的最重要的技术组成接口部分也发生了翻天覆地的巨大变化,本文介绍了在目前常用的VXI型总线接口技术,并且对其的性能指标进行了详尽的分析。

关 键 词:测试系统 VXI 总线接口技术 性能指标 

分 类 号:TP336[自动化与计算机技术—计算机系统结构]

 

参考文献:

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引证文献:

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