激光跟踪仪在平面度测量上的准确性探讨  

作　　者：余华昌 包晓峰 

机构地区：[1]上海精密计量测试研究所,上海200031

出　　处：《计测技术》2015年第B07期34-36,共3页Metrology & Measurement Technology

摘　　要：对大型平面的平面度测量一直是一个难点,采用水平仪法或平直仪法获得的数据处理困难,且费时费力。针对这一问题,本文通过激光跟踪仪来解决,通过实例与标准水平仪法的比较,验证了激光跟踪仪在平面度测量上所具有的准确性能满足哪些需求。

关 键 词：激光跟踪仪( API) 电子水平仪 平板 平面度 

分 类 号：TB921[一般工业技术—计量学]