X射线荧光光谱无标半定量分析钨精矿WO_3  

作　　者：于磊[1] 宋永清[1] 

机构地区：[1]北京有色金属研究总院,北京100088

出　　处：《化工管理》2015年第2期158-158,共1页Chemical Engineering Management

摘　　要：在荷兰帕纳科公司提供的X射线荧光光谱基本参数法半定量分析的Sem IQ软件基础上进行钨精矿WO3的分析,用黑、白钨精矿的样品进行化学定值分析其中WO3、P、As、Ca、Cu、Sn、Si O2、Mo、Mn含量,采用粉末压[1]片法加入一定量粘合剂制备成标样,重新建立一套半定量分析方法,提高了钨精矿WO3分析的准确度。应用该方法进行了大量钨精矿中WO3的半定量分析,并与原软件方法对比,WO3分析结果明显改善。

关 键 词：X射线荧光光谱 钨精矿 粉末压片法 无标半定量 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学]