基于TDC的高精度微电容测量系统设计  

作　　者：黄峰[1] 刘敬彪[1] 于海滨[1] 潘勉[1] 

机构地区：[1]杭州电子科技大学电子信息学院,浙江省杭州市310018

出　　处：《电子技术与软件工程》2015年第17期91-92,共2页ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING

摘　　要：提出一种基于Pcap01AD的微小电容测量电路设计,可对0-100p F之间的微小电容进行高精度测量。该设计基于TDC(时间数字转换)原理,系统硬件主要由STM32F101C8T6单片机和Pcap01微电容测量芯片两部分组成。系统软件包括下位机软件和上位机软件,下位机主要完成对电容测量数据的读取以及发送至上位机,上位机则对数据作进一步处理和显示。实验证明,该系统的测量精度非常高,在以22p F为基础电容时,其测量最小误差率仅为9.8×10-7%。

关 键 词：TDC 高斯分布 微电容测量 Pcap01AD 

分 类 号：TM934.2[电气工程—电力电子与电力传动]