检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:Nobuo Tanaka 郭抒[2]
机构地区:[1]不详 [2]中国科学院理化技术研究所
出 处:《国外科技新书评介》2015年第7期3-4,共2页Scientific & Technology Book Review
摘 要:扫描透射电子显微分析技术是在透射电子微观领域最有效的成像技术。它是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方法。它在表征包括有机材料和生物材料的纳米尺度材料方面引起了极大的关注,并开始被广泛应用。扫描透射电子显微分析技术发展迅速,在不远的将来将成为透射电子显微技术的主要技术。本书是一本先进的扫描透射电子显微分析技术的教科书。
关 键 词:透射电子显微术 成像技术 纳米材料 扫描 基础知识 透射电子显微技术 微分析技术 微观领域
分 类 号:TB383[一般工业技术—材料科学与工程]
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