基于高速单片机的X射线测厚仪数据采集系统设计  

作　　者：陈文明[1] 叶云洋[1] 

机构地区：[1]湖南电气职业技术学院,湖南湘潭411101

出　　处：《科技创新与应用》2015年第30期3-4,共2页Technology Innovation and Application

摘　　要：工业用测厚仪有接触式和非接触式两种,通常在线测量使用非接触式的,而X光测厚仪是目前非接触式中使用最多的。一般而言,工业上多采用以PLC和工业计算机为核心实现测厚数据的采集和处理,但该系统体积大、价格昂贵,不适合中、小型企业客户的需求。为此,提出基于高速单片机的X射线测厚仪数据采集系统,在保证系统工作效率和测量精的前提下,使系统的结构简化以及设备的成本降低了。

关 键 词：高速单片机 X射线测厚仪 数据采集系统 

分 类 号：TP274.2[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]