原子力显微镜及其在聚合物基纳米复合材料中的应用  

作　　者：王鹏[1] 宋翠[2] 苏正涛[1] 王珊[1] 王景鹤[1] 

机构地区：[1]北京航空材料研究院减振降噪材料及应用技术航空科技重点实验室 [2]中国科学院过程工程研究所

出　　处：《新材料产业》2015年第9期53-57,共5页Advanced Materials Industry

摘　　要：原子力显微镜（AFM）由美国国际商用机器公司（IBM）的Binnig与史丹佛大学的Quate在1986年共同发明，旨在使非导电物体也能用扫描探针显微镜观测。其工作原理为：用探针沿样品表面扫描，利用探针与样品间的弱相互作用力作为探测信号，实现样品表面轮廓成像，从而打破了扫描隧道显微镜（STM）对样品导电要求的限制，直接推动了纳米科学特别是纳米材料科学的发展。

关 键 词：原子力显微镜 聚合物基纳米复合材料 美国国际商用机器公司 扫描隧道显微镜 应用 扫描探针 弱相互作用力 纳米材料科学 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程] TB33[机械工程—仪器科学与技术]