2015年IEC TC47/SC47E和SC47F会议议题  

作　　者：张秋[1] 李博[1] 

机构地区：[1]中国电子技术标准化研究院

出　　处：《信息技术与标准化》2015年第8期7-7,9,共2页Information Technology & Standardization

摘　　要：6月10-12日,2015年度IEC TC47/SC47E（半导体分立器件分技术委员会）和SC47F（MEMS分技术委员会）工作组会议在新加坡召开,由工信部电子工业标准化研究院、航天704所、北京大学等相关单位组成的中国代表团参加了此次会议。

关 键 词：IEC 会议议题 半导体分立器件 技术委员会 中国代表团 电子工业 北京大学 新加坡 

分 类 号：TP212-2[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]