YSZ/YSZ-NiO电解质薄膜在低温条件下的电学特性研究  

Electrical characterization of YSZ/YSZ-NiO grown by pulsed laser deposition for low temperature solid oxide fuel cells

作　　者：康振锋 郑平平[1] 薄青瑞 许彦彬[1] 刘华艳[1] 苏海莹[1] 贾晓静[1] 丁铁柱[1] 

机构地区：[1]内蒙古大学物理科学与技术学院,内蒙古自治区半导体光伏技术重点实验室,内蒙古呼和浩特010021

出　　处：《真空》2015年第5期35-38,共4页Vacuum

基　　金：国家自然科学基金项目(批准号:11264025)

摘　　要：采用脉冲激光沉积(PLD)法,在多孔支撑的NiO-YSZ阳极基底上制备YSZ电解质薄膜。利用XRD、SEM和射频阻抗/材料分析仪对多层膜的物相结构、表面形貌以及电学特性等进行表征。实验结果发现,YSZ电解质薄膜在300-500℃之间,其电导活化能最小值为0.86e V,电导率可达到7.96×10-5s/cm。This study is focused on the yttria stabilized zirconia （YSZ）thin films onto porous supporting NiO-YSZ anode substrates using pulsed laser deposition （PLD）. The phase, structure, surface morphology and electrical properties of oxygen ion conductor electrolyte of YSZ thin films were characterized by X-ray diffraction （XRD）, scanning electron microscope （SEM）and electrochemical impedance spectroscopy, respectively. Minimum conductivity activation energy of YSZ thin films is 0.86eV at 300- 500%, and the conductivity can achieve 7.96×10^-5s/cm.

关 键 词：低温固体氧化物燃料电池 电导率 AC交流阻抗谱 YSZ薄膜 PLD 

分 类 号：O484.5[理学—固体物理]