LED驱动电源磁性元件电参数测量系统的硬件设计  

Electrical Parameter Measuring for Magnetic Devices in LED Drive Power

作　　者：储萍[1] 李伟[1] 田相鹏[1] 

机构地区：[1]浙江理工大学科技与艺术学院,浙江杭州311121

出　　处：《工业控制计算机》2015年第10期125-126,128,共3页Industrial Control Computer

基　　金：浙江理工大学科研项目(KY2013002);2013年浙江省课堂教学改革项目(kg2013545)

摘　　要：LED驱动电源磁性元件的有效测试是提高驱动电源质量的极其重要的手段。提出一种采用ARM和FPGA的嵌入式测试方案,系统由数控电源、电流采样控制与波形识别算法电路、高速ADC采样电路、磁性元件驱动电路和ARM处理器与显示电路等组成部分,实现了不同规格的磁性元件测试系统。测试结果表明,系统达到了既定目标,为LED驱动电源磁性元件测试提供了有效手段。This paper presents embedded test plan based on ARM and FPGA.The whole test system includes five parts which is high power drive power,man-machine interactive interface,FPGA dynamic waveform identification algorithm,magnetic devices drive circuit and the high-speed sampling circuit.Finally,different specifications magnetic devices are tested using this system.

关 键 词：LED驱动电源 磁性元件测试 FPGA 

分 类 号：TM930.2[电气工程—电力电子与电力传动] TN86[电子电信—信息与通信工程]