成像孔隙谱评价孔隙结构在低孔低渗气层中的应用  

作　　者：甘秀娥[1] 赵欣[2] 蔡帆[1] 

机构地区：[1]川庆钻探工程有限公司测井公司 [2]成都理工大学

出　　处：《国外测井技术》2015年第5期11-14,共4页World Well Logging Technology

基　　金：国家科技重大专项(2011ZX05001-005-05)

摘　　要：核磁共振是测井中评价孔隙结构的有力手段,其T2谱能反映储层分区孔隙度,以此评价孔隙结构特征。通过刻度后的成像电导率曲线也能形成与核磁共振T2谱相似的谱特征,同样能反映储层孔隙结构特征,结合地质研究的成像孔隙谱分类评价方法在四川低孔低渗储层有效性评价中得到了很好地推广应用。

关 键 词：低孔低渗 核磁共振 T2谱 成像孔隙谱 孔隙结构 

分 类 号：TE353.3[石油与天然气工程—油气田开发工程]