超声检测耦合剂应用的物理分析  

作　　者：林凤华[1] 彭俊珍[1] 

机构地区：[1]湖北职业技术学院,湖北孝感432000

出　　处：《中国科技纵横》2015年第22期247-247,共1页China Science & Technology Overview

摘　　要：本文介绍了超声波的产生及物理特性，说明了声学中介质的划分方法，定义了声强透射系数，从物理学角度对超声波通过介质薄层进行了分析讨论，指出了探头与体表间存在很大声阻抗差的消除方法是引入耦合剂，超声波通过介质薄层的分析讨论为超声检测耦合剂的应用提供了物理依据。

关 键 词：超声波 介质薄层 耦合剂 物理依据 

分 类 号：O413.1[理学—理论物理]