泰克推出全自动MIPI M-PHY 3.1和CTS 3.1发射机测试解决方案  

出　　处：《单片机与嵌入式系统应用》2015年第12期88-88,共1页Microcontrollers & Embedded Systems

摘　　要：泰克公司为MIPIM-PHY3．1规范和一致性测试套件（CTS）3．1推出全自动物理层发射机测试解决方案。该解决方案支持M-PHY高速Gear1、Gear2、Gear3、PWM（GO-G7）和SYS模式，在与泰克DP070000SX或MSO／DP070000DX示波器和P7600系列探头一起使用时，为M-PHY测量提供了噪声极低的解决方案。

关 键 词：测试解决方案 泰克公司 发射机 全自动 测试套件 物理层 一致性 S模式 

分 类 号：TN830[电子电信—信息与通信工程]