检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:刘金琰[1]
机构地区:[1]上海电器科学研究所(集团)有限公司,上海200063
出 处:《电器与能效管理技术》2015年第21期24-28,共5页Electrical & Energy Management Technology
基 金:上海智能电网用户端设备与系统工程技术中心课题(13DZ2280800)
摘 要:针对GB/T 31143—2014《电弧故障保护电器(AFDD)的一般要求》标准中关键的电弧试验内容,主要解析了串联电弧故障试验、并联电弧故障试验、屏蔽试验和误脱扣试验。通过对标准试验过程的详细分析,以期对企业提供指导。Aiming at the key content of arc test according to GB/T 31143--2014 〈 Generral Requirements for Arc Fault Detection Device 〉 ,the series arc fault tests,parallel arc fault tests,masking test and unwanted tripping test were mainly explained. Through a detailed analysis of the standard test process ,in order to provide guidance to the enterprise.
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