可满足性求解方法在SoC验证和测试中的应用  

作　　者：孙强[1] 

机构地区：[1]牡丹江师范学院工学院,黑龙江牡丹江157011

出　　处：《牡丹江师范学院学报（自然科学版）》2015年第4期25-27,共3页Journal of Mudanjiang Normal University：Natural Sciences Edition

基　　金：黑龙江省高校青年学术骨干项目(1253G060)

摘　　要：介绍可满足性(SAT)求解方法在向量自动生成、符号模型检查和组合电路等价性检查等在电子设计自动化(Electronic Design automation,EDA)研究领域中的应用,阐述SoC芯片验证和测试采用可满足性(SAT)方法进行解决的原理.满足性(SAT)求解方法可有效地减少验证和测试所需时间,提高SoC芯片设计的效率和可靠性.

关 键 词：片上系统 验证 测试 可满足性问题 

分 类 号：O441.3[理学—电磁学]