半电波暗室中场均匀性校准窗口的选择问题探析  

作　　者：熊洋洋[1] 柯进[1] 余洪文[1] 史信荣[1] 梁新兴[1] 

机构地区：[1]广东省计量科学研究院,广东广州510405

出　　处：《科技资讯》2015年第17期247-248,共2页Science & Technology Information

摘　　要：电子电气设备在进行射频电磁场辐射抗扰度试验中,为了保证试验的有效性和重复性,需要对场均匀性进行校准。文中介绍了场均匀性校准的要求和方法,并以80MHz^1GHz10V/m的校准场强为例,分别选择1.5m×1.5m和0.5m×0.5m两个窗口对均匀域进行校准。然后从场强分布、场强差值分布、定点场强实测等方面对这两个窗口的校准结果进行分析、对比,结果表明小窗口的场均匀性要明显优于大窗口。最后文章建议按照被测件(Equipment Under Test,简称EUT)的尺寸来选择校准窗口的大小,在窗口覆盖EUT的前提下尽量选择较小的尺寸,对于过大尺寸的EUT可采用部分照射法。这样不仅更好地保证了试验的有效性和重复性,而且还提高了场均匀性校准的效率。

关 键 词：半电波暗室 场均匀性校准 辐射抗扰度 

分 类 号：TM937[电气工程—电力电子与电力传动]