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作 者:胡龙虎[1] 丁士华[1] 宋天秀[1] 肖鹏[1] 张瑶[1] 刘杨琼
机构地区:[1]西华大学材料科学与工程学院,四川成都610039
出 处:《西华大学学报(自然科学版)》2016年第1期35-39,共5页Journal of Xihua University:Natural Science Edition
基 金:国家自然科学基金(11074203);四川省教育厅资助项目(14ZB126);教育部春晖计划资助项目(Z2009-1-61009);西华大学研究生创新基金(ycjj2014049;ycjj2014046;ycjj2014050)
摘 要:采用传统固相反应法制备添加不同质量分数(0~4%)MgO的K2O-Al2O3-SiO2体系低介电微波陶瓷,利用SEM、XRD、Agilent4284等测试手段,讨论加入MgO对K2O-Al2O3-SiO2相系的结构、显微组织、烧结温度及介电性能的影响。结果表明:添加MgO能有效降低K2O-Al2O3-SiO2体系的烧结温度,且室温下介电常数低,介电损耗小;1MH:下,添加质量分数2%MgO的样品在1150℃烧结后介电常数最小,为4.271,在1250℃烧结后介电损耗最小,为0.0049。we prepared low dielectric constant microwave dielectric ceramics ( system of K2O-Al2O3-SiO2 ) doped MgO in the way of solid state reaction, discussed the effect of MgO on the system of K2O-Al2O3-SiO2about phase structure, micro - structure, Sintering temperature and Dielectric properties by SEM, XRD and Agilent4284. The result show that MgO could lower sintering tempera- ture,and the samples are low dielectric constant and low dielectric loss at room temperature. At the frequency of 1 MHz, the sample doped with 2 (wt)% MgO has the lowest dielectric constant sintered at 1 150 ℃, and the lowest dielectric loss sintered at 1 250 ℃.
关 键 词:K2O-Al2O3-SiO2 固相反应法 低介电常数
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