ICP-OES法测纯银杂质元素的方法研究  

作　　者：曹小勇[1] 郭剑明[1] 刘红伟[1] 

机构地区：[1]国家金银制品质量监督检验中心(南京)李朗实验室,广东深圳518112

出　　处：《化工管理》2016年第6期70-71,共2页Chemical Engineering Management

摘　　要：本文采用电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICPOES)对银中所含的Au、Bi、Cd等20种杂质元素进行含量分析。该方法以酒石酸作为掩蔽剂,可以减少溶样过程中Ag Cl对杂质元素的吸附损失;以抗坏血酸作还原剂,可以保留大部分杂质在溶液中,最终得出的相对标准偏差和回收率分别为0.05%-1.78%和97.26%-108.66%,通过与GB/T 21198.5-2007检测方法所得结果进行比对,得出ICP-OES方法更科学、准确、合理。

关 键 词：ICP-OES 银 杂质元素 

分 类 号：TG115.33[金属学及工艺—物理冶金]