X射线计算机断层扫描技术在水泥基材料微观结构研究中的应用  

Application of X-ray computed tomography in research of microstructure of cementbased materials

作　　者：刘贤萍[1,2] 丁莹[1] 

机构地区：[1]同济大学材料科学与工程学院,上海201804 [2]先进土木工程材料教育部重点实验室(同济大学),上海201804

出　　处：《水泥》2016年第3期54-57,共4页Cement

基　　金：国家自然科学基金资助项目(51102181)

摘　　要：介绍了X射线计算机断层扫描技术(CT)的成像原理,列举了同步辐射CT在水泥基材料微观结构(物相分布、孔隙结构及裂缝发展等)研究中的应用,并分析了CT技术的误差来源和应用局限性。The principle and technical advantages of X-ray computed tomography（CT） were introduced. The typical applications of synchrotron X-ray computed tomography（SXCT） in the analysis of microstructure of cement-based materials,such as phase distribution, pore structure and crack propagation, were summarized. In addition, the origins of error and limitations in the application were proposed.

关 键 词：计算机断层扫描 同步辐射X射线 水泥基材料 微观结构 

分 类 号：TQ172.16[化学工程—水泥工业]