上海微技术工研院牵手NI开展微波芯片测试技术研发  

出　　处：《计算机测量与控制》2016年第3期296-296,共1页Computer Measurement &Control

摘　　要：上海微技术工业研究院（SITRI）作为致力于＂超越摩尔＂半导体技术及物联网应用研发和产业化的协同创新中心,宣布与美国国家仪器公司（National Instruments,简称NI）签署合作,联合成立＂射频及微波芯片（RFIC/MMIC）测试技术联合实验室＂,

关 键 词：芯片测试 测试技术 工业研究院 联合实验室 微技术 物联网 RFIC 半导体技术 科技动态 脉冲产生 

分 类 号：TN152[电子电信—物理电子学]