高速WDM相邻通道隔离度测试探究  

Inquiry on High-speed WDM Adjacent Channel Isolation Test

作　　者：王元杰[1] 杨宏博[2] 张贺[3] 沈世奎[3] 

机构地区：[1]中国联通山东分公司,山东济南250002 [2]中国联通网络公司,北京100033 [3]中国联通网络技术研究院,北京100048

出　　处：《邮电设计技术》2016年第3期17-19,共3页Designing Techniques of Posts and Telecommunications

摘　　要：通过一次骨干网40G波分系统验收,现场测试解复用器相邻通道隔离度均不达标,进而发现业界现行普遍适用的简化测试方法在实际高速WDM系统测试中可能会出现测试结果不满足指标的问题,经过查找相关标准资料及理论分析,对现有测试方法进行归纳整理,实际验收测试时候,要根据不同的业务信号来选择不同的测试方法,对业界日后的40G、100G等高速波分系统测试有一定的指导作用。With a 4G WDM system acceptance,it is found that the on-site testing Demux adjacent channel isolation degree can’t reach the standard,further found that the industry widely uses the simplified testing method in the actual high-speed WDM system test and the results can’t reach the standard. Based on the reference on the related standards and theoretical analysis,it con-cludes that the testing method should be selected according to the different service signaling. It gives guidance for the high-speed WDM testing in future.

关 键 词：WDM ODU OTU 通道隔离度 插损 

分 类 号：TN929.1[电子电信—通信与信息系统]