矩阵求逆应用于等离子体杂质体发射率测量的研究  

Obtaining of Tokamak Plasma Impurities Emissivities Profiles by Using Matrix Inversion Method

作　　者：沈永才[1] 程飞[1] 吴义恒[1] 

机构地区：[1]安庆师范学院物理与电气工程学院,安徽安庆246133

出　　处：《安庆师范学院学报（自然科学版）》2016年第1期76-78,共3页Journal of Anqing Teachers College(Natural Science Edition)

基　　金：安徽省教育厅高校自然科学研究重点项目(KJ2016A434);安庆师范学院博士启动专项基金(044-140001000024)

摘　　要：对托卡马克等离子体中获得杂质局部体发射率的过程进行研究,提出了一种采用求逆矩阵的方法进行Abel反演,根据弦积分的杂质光亮度分布获得杂质局部体发射率。结合托卡马克装置假象的钼杂质弦积分剖面,采用该方法获得了杂质的体发射率分布。In this paper,process of obtaining impurity emissivity on tokamak plasma has been studied. By using matrix inversion,emissivity can be calculated according to brightness of impurity spectral lines. As an example,Mo emissivities have been calculated by using this method based on the assumed brightness.

关 键 词：逆矩阵 Abel反演 杂质体发射率 

分 类 号：O151.21[理学—数学]