一种针对FPGA密码模块的非侵入式故障攻击（英文）  

A Non-invasive Fault Attack on FPGA-based Cryptographic Applications

作　　者：廖楠[1] 崔小欣[1] 廖凯[1] 王田[1] 于敦山[1] 程玉芳 

机构地区：[1]北京大学信息科学技术学院微电子学研究院,北京100871 [2]国民技术股份有限公司,深圳518057

出　　处：《北京大学学报（自然科学版）》2016年第2期193-198,共6页Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Pekinensis

基　　金：国家自然科学基金(61306040);北京市自然科学基金(4152020);深圳市战略新兴产业发展专项资金创新环境建设计划(ZDSY20130402095348589)资助

摘　　要：在FPGA平台上,利用降低电源电压的方法使电路关键路径上的数据建立失败,从而达到注入故障的目的。基于合适的故障模型,攻击者可以有效地获取密钥信息,实现了针对密码模块的高效率、低成本的非侵入式故障攻击方法。攻击实验利用一台电压源和一台个人电脑,通过8组正确和错误密文对,成功地恢复出一个FPGA中AES密码模块的128 bit完整密钥。A non-invasive, high-efficient and low-cost fault attack is realized on FPGA-based cryptographic applications. Based on the setup failures in critical paths, faults are injected into the FPGA devices by lowering the supply voltage. Then the encryption key can be retrieved efficiently with an appropriate fault model. In the attack experiments, the full 128-bit key of AES is retrieved correctly with only 8 pairs of correct and faulty ciphertexts within a few minutes, by using a power supply and a personal computer, based on the FPGA platform.

关 键 词：故障攻击 FPGA AES 建立失败 

分 类 号：TN918.4[电子电信—通信与信息系统] TN791[电子电信—信息与通信工程]