绝缘试样老化过程中超宽频带放电信号的分形分析  

作　　者：成永红[1] 谢小军[1] 蒋雁[1] 陈小林[1] 谢恒堃[1] 

机构地区：[1]西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安710049

出　　处：《自然科学进展》2002年第8期886-889,共4页

基　　金：国家自然科学基金(批准号:59837260);国家自然科学基金(批准号:50077014)

摘　　要：在超宽频带局部放电研究中,局部放电特征峰的大小、位置和老化时间之间的变化规律,一直是研究工作中的一个重点,在应用小波分析技术提取超宽频带局部放电各频段信号的基础上,提出了采用分形分析技术对局部放电信号各频段信号进行分维数的计算,用分维数来量化分析超宽频带局部放电的频谱特性,应用该方法,对绝缘试样老化过程中特征峰的变化规律进行了量化分析,发现了一些典型特征频段,为根据局部放电特性进行的电力设备绝缘诊断奠定了技术基础。

关 键 词：绝缘试样 超宽频带 局部放电 老化过程 特征峰 信号分形分析 分维数 小波分析 

分 类 号：TN911.6[电子电信—通信与信息系统] O415.5[电子电信—信息与通信工程]