一种改进的双频光栅测量技术  

作　　者：丁一飞[1] 王鑫[1] 

机构地区：[1]合肥工业大学,安徽合肥230009

出　　处：《科技创新与应用》2016年第11期14-15,共2页Technology Innovation and Application

摘　　要：在现有的双频光栅技术中,对低频部分自身的求解依然受到解包裹误差的影响。而且,该方法的复合光栅至少需要6幅图像才能求解。针对上述问题,文章提出了一种改进的双频投影光栅技术。该光栅中只存在一个周期的低频部分,这样低频部分不需经过相位展开的步骤,同时可以使高频光栅携带更多的信息。实验证明改进的复合光栅可以良好地改善拉线、相位不连续等带来的误差,同时最少只需要5幅图像即可完成解算。

关 键 词：光栅投影 形貌测量 相位展开 解包裹 双频光栅 

分 类 号：TH741.6[机械工程—光学工程]