吐丝期玉米倒伏后地面高光谱特征参数分析  

作　　者：杨粉团[1,2] 顾晓鹤[3] 李刚[2] 王纪华 宋森楠[1,3] 杨贵军[3] 谭昌伟[1] 郭文善[1] 

机构地区：[1]扬州大学农学院/扬州大学江苏省作物遗传生理国家重点实验室培育点/粮食作物现代产业技术协同创新中心,江苏扬州225009 [2]吉林省农业科学院,吉林长春130033 [3]北京农业信息技术研究中心,北京100097 [4]北京农产品质量检测与农田环境监测技术研究中心,北京100097

出　　处：《江苏农业科学》2016年第3期85-87,共3页Jiangsu Agricultural Sciences

基　　金：国家玉米产业技术体系(编号:CARS-02-17);国家科技支撑计划(编号:2012BAD04B02);国家自然科学基金(编号:41271415);吉林省科技支撑项目(编号:20130206016NY、20140203002NY)

摘　　要：倒伏是玉米主要自然灾害之一,及时、准确地监测玉米倒伏的程度,对于玉米倒伏灾害的损失评估及防治有重要意义。设置玉米吐丝期不同倒伏程度的田间模拟试验,利用地面高光谱数据,比较正常生长的玉米及受倒伏危害玉米的冠层反射光谱和高光谱特征参数的差异,分析了倒伏角度与高光谱参数之间的相关关系。结果表明,玉米倒伏后可见光波段的反射率增加高于近红外波段,且随着时间的推移,近红外波段的差异变小。玉米吐丝期倒伏后红谷吸收深度变浅,反射绿峰高度降低,红边位置和近红外平台位置均向短波方向移动。红边内（620~760 nm）一阶微分光谱所包围的面积变化差异小;蓝边内（430~470 nm）和近红外平台（780~1 300 nm）的一阶微分光谱所包围的面积增加显著。倒伏角度与高光谱特征参数相关分析表明,D、SDr/SDb、（SDr-SDb）/（SDr＋SDb）相关系数最高,可以作为监测玉米倒伏程度的高光谱特征参数指标。

关 键 词：玉米 吐丝期 高光谱 倒伏角度 

分 类 号：S127[农业科学—农业基础科学] S513.04