LED加速老化测试及寿命预测方法研究  

作　　者：刘岩[1] 

机构地区：[1]深圳清华大学研究院

出　　处：《科技纵览》2016年第4期58-59,共2页IEEE Spectrum

基　　金：项目研究成果不仅解决了LED寿命预测的难题,也填补了中国在LED可靠性测试装备方面的空白.上述研究成果在LED行业的大规模应用,将有效帮助中国LED企业加快LED照明产品的优化设计进度,提高中国LED照明产品的可靠性和实际使用寿命,有效促进LED照明产品的大规模应用.国内外对上述研究成果给予了许多正面评价.该项目获得国家重点基础研究发展计划（973计划）资助（项目编号2011CB0131061.

摘　　要：LED作为“第四代新光源”，具有理论寿命长、发光效率高、能耗低等特点，已逐渐进入普通照明领域，市场份额逐年增加。LED的理想预期寿命超过5万小时，但目前实际寿命与之相去甚远，严重影响了LED的大规模应用，而LED的可靠性测试及寿命预测是解决这一问题的关键。可靠性测试可以帮助LED生产厂家及时发现LED产品的设计缺陷以及影响其实际寿命的原因，从而对LED产品进行优化，延长其实际使用寿命。

关 键 词：寿命预测 LED 老化测试 可靠性测试 发光效率 普通照明 市场份额 预期寿命 

分 类 号：TM923.321[电气工程—电力电子与电力传动]