一种测试数据分块纵向相容的编码压缩方案  

作　　者：李建新[1] 吴孝银[1] 

机构地区：[1]宿州学院智能信息处理实验室,安徽宿州234000

出　　处：《宿州学院学报》2016年第3期115-118,共4页Journal of Suzhou University

基　　金：安徽省教育厅自然科学研究项目(KJ2014ZD31);安徽省教育厅省级教学研究项目(2012jyxm545);宿州学院科研平台开放课题(2011YKF09);宿州学院优秀青年人才资助项目(2014XQNRL006)

摘　　要：为有效降低集成电路的测试数据量,设计了一种测试数据分块纵向相容的编码压缩和解压方案。将原始测试集中的每一测试向量以固定位数分块,然后将顺序号相同的数据块归为一列,根据每一列数据块间的相关性,将长的数据块用短的标记码表示,从而实现测试数据的压缩,进而设计了与该编码方案相应的解压结构。研究表明:该方案与同类方案相比有较高的编码压缩率,而且解压过程简单易行。

关 键 词：标记编码 更新 纵向相容 #运算 ∩运算 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]