采用表面电位衰减法测试星用典型绝缘介质电导率  

On Measurement of Typical Insulator Dielectric on the Satellite by Monitoring the Surface Potential Decaying

作　　者：王松[1] 孙永卫[1] 武占成[1] 刘业楠[2] 唐小金[2] 

机构地区：[1]军械工程学院静电与电磁防护研究所,河北石家庄050003 [2]北京卫星环境工程研究所,北京100094

出　　处：《军械工程学院学报》2016年第2期33-36,共4页Journal of Ordnance Engineering College

基　　金：国家自然科学基金资助项目(51577190)

摘　　要：卫星上某些绝缘介质受空间等离子体作用,容易发生充放电情况.该过程中,介质电导率是影响充放电特征的关键参数.采用表面电位衰减法,可以得到接近实际工况的介质本征电导率.因此,采用表面电位衰减法,首先分析表面电位衰减法对测试结果的影响因素,然后研究3keV电子束辐照后不同厚度试样表面电位衰减过程,获得电路板材料(Fr-4)和聚酰亚胺(PI)的本征电导率为10^(-16) S/m量级,总结出试样厚度和电子能量对表面电位衰减测试电导率的作用规律.By surface potential decay monitoring,the influencing factors in this technique are analyzed.Then,the surface potential decaying process after 3keV electron irradiation is studied by measurement in a vacuum chamber,and the conductivity of two kinds of dielectric namely printed circuit board（Fr-4）and polyimide（PI）are derived to be in the level of 2×10^（16） S/m.The impacts of sample thickness and irradiating electron energy on the measured results are summarized.

关 键 词：电导率测试 表面电位衰减法 电子辐照 静电放电 聚酰亚胺 

分 类 号：O441[理学—电磁学] TN011[理学—物理]