基于DDS芯片产生的M序列信号性能测试  

作　　者：朱亮[1] 

机构地区：[1]中国电子科技集团公司第38研究所,安徽省合肥市230088

出　　处：《电子技术与软件工程》2016年第10期135-135,共1页ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING

摘　　要：M序列是一种近似白噪声的伪随机确定序列,具有优良的自相关函数,在某些场合下可以代替白噪声用于系统辨识工作,在现代雷达技术中也有着广泛的应用前景。DDS芯片已广泛应用于数字阵列雷达系统,因此基于DDS芯片产生的M序列信号的性能测试可以为M序列在数字阵列雷达系统中的应用提供技术基础。

关 键 词：M序列 DDS芯片 FPGA 

分 类 号：TN741[电子电信—电路与系统]