智能适配技术的导弹通用测试系统优化设计  

Optimization Design of Missile Universal Automatic Test System Based on Intelligent Test Unit Adapter

作　　者：顾彬彬[1] 彭涛[1] 邵云峰[1] 马晓东[1] 

机构地区：[1]北京电子工程总体研究所,北京100854

出　　处：《现代防御技术》2016年第3期171-178,共8页Modern Defence Technology

摘　　要：针对当前导弹通用测试系统在装备维护保障过程中出现的一些不足,提出了一种基于智能适配技术的系统优化设计方法,采用现场可重构技术实现智能适配器开关网络及调理模块设计,并进行了测试系统安全性设计,大幅提高了导弹测试系统的通用化水平及测试效率。Aiming at disadvantages of missile universal automatic test system （ATS） during equipment support, an optimization design method based on intelligent adapter is formed. The reconfigurable technology is applied to the switch network and modulates circuit in intelligent adapter, and system security is also mentioned, the research can be helpful for improving the universalization level and test efficiency of ATS.

关 键 词：智能适配器 通用测试系统 优化 可重构 装备保障 开关网络 

分 类 号：TJ768.3[兵器科学与技术—武器系统与运用工程] TB114.1[理学—运筹学与控制论]